Çift referans teknolojisi sayesinde kontaminasyonu önleyen tasarım ile daha uzunsensör ömrü• Geniş ölçüm yüzeyi ve referans yapısı sayesinde bilinmeyen ve zorlu numunlerdehassas ve tekrarlanabilir ölçümler• Kırılmaya karşı yüksek dirençli düz ölçüm yüzeyi• Düz yüzeyli uç yapısı sayesinde kirli/atık ..